A comparative study of two ion beam techniques used in the...

A comparative study of two ion beam techniques used in the analysis of porous silicon

T. Giaddui, L.G. Earwaker, K.S. Forcey, B.J. Aylett, I.S. Harding, A. Loni, L.T. Canham
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Volume:
155
Année:
1999
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/s0168-583x(99)00406-1
Fichier:
PDF, 144 KB
english, 1999
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