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Displacement damage degradation of ion-induced charge in Si...

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 2003 Vol. 206; Iss. none

Displacement damage degradation of ion-induced charge in Si pin photodiode

Shinobu Onoda, Toshio Hirao, Jamie Stuart Laird, Hidenobu Mori, Hisayoshi Itoh, Takeshi Wakasa, Tsuyoshi Okamoto, Yoshiharu Koizumi
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Volume:
206
Année:
2003
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/s0168-583x(03)00790-0
Fichier:
PDF, 103 KB
english, 2003
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