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Structural study of thin films by extended energyloss fine...

Structural study of thin films by extended energyloss fine structure spectroscopy

M. De Crescenzi, N. Motta, L. Lozzi, M. Passacantando, P. Picozzi, S. Santucci
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Volume:
193-194
Année:
1990
Langue:
english
Pages:
16
DOI:
10.1016/s0040-6090(05)80038-0
Fichier:
PDF, 717 KB
english, 1990
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