Interface location by depth sectioning using a low-angle...

Ultramicroscopy 2012 Vol. 113; Iss. none

Interface location by depth sectioning using a low-angle annular dark field detector

Gary Ruben, Eireann C. Cosgriff, Adrian J. D'Alfonso, Scott D. Findlay, James M. LeBeau, Leslie J. Allen
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Volume:
113
Année:
2012
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/j.ultramic.2011.11.002
Fichier:
PDF, 1.30 MB
english, 2012
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