Distribution of Te inclusions in a CdZnTe wafer and their...

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 2011 Vol. 652; Iss. 1

Distribution of Te inclusions in a CdZnTe wafer and their effects on the electrical properties of fabricated devices

A. Hossain, L. Xu, A.E. Bolotnikov, G.S. Camarda, Y. Cui, G. Yang, K.-H. Kim, R.B. James
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Volume:
652
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
3
DOI:
10.1016/j.nima.2011.01.162
Fichier:
PDF, 548 KB
english, 2011
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