Fast and accurate statistical characterization of standard...

Microelectronics Reliability 2011 Vol. 51; Iss. 12

Fast and accurate statistical characterization of standard cell libraries

Lucas Brusamarello, Gilson I. Wirth, Philippe Roussel, Miguel Miranda
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Volume:
51
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
10
DOI:
10.1016/j.microrel.2011.05.016
Fichier:
PDF, 684 KB
english, 2011
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