Impact of increased resistive losses of metal interconnects...

Impact of increased resistive losses of metal interconnects upon ULSI devices reliability and functionality

Alexander Rysin, Pavel Livshits, Sergey Sofer, Yefim Fefer
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Volume:
92
Année:
2012
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.mee.2011.04.045
Fichier:
PDF, 418 KB
english, 2012
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