Measurements of the escape probability of photoelectrons...

Surface and Interface Analysis 2000 Vol. 30; Iss. 1

Measurements of the escape probability of photoelectrons and the inelastic mean free path in silver sulphide

J. Zemek, P. Jiricek, S. Hucek, B. Lesiak, A. Jablonski
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Volume:
30
Année:
2000
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1002/1096-9918(200008)30:13.0.co;2-7
Fichier:
PDF, 88 KB
english, 2000
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