Dimensional metrology interoperability and standardization...

Computer Standards & Interfaces 2011 Vol. 33; Iss. 6

Dimensional metrology interoperability and standardization in manufacturing systems

Yaoyao Zhao, Xun Xu, Tom Kramer, Fred Proctor, John Horst
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Volume:
33
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
15
DOI:
10.1016/j.csi.2011.02.009
Fichier:
PDF, 2.92 MB
english, 2011
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