Secondary ion mass spectrometry of n-type (Bi2Te3) ×...

Materials Research Bulletin 1991 Vol. 26; Iss. 2-3

Secondary ion mass spectrometry of n-type (Bi2Te3) × (Bi2Se3)1−x thermoelectric semiconductor

Hideo Wada, Jun Morimoto, Toru Miyakawa, Taizo Irie
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Volume:
26
Année:
1991
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/0025-5408(91)90008-a
Fichier:
PDF, 390 KB
english, 1991
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