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Application of X-ray diffraction topography for the study...

Application of X-ray diffraction topography for the study of Al single crystals plastically deformed at low temperatures

Dr. I. G. Novikova, V. I. Startsev, D. A. Didenko
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Volume:
10
Année:
1975
Langue:
english
Pages:
9
DOI:
10.1002/crat.19750100307
Fichier:
PDF, 699 KB
english, 1975
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