Trace element analysis by means of synchrotron radiation,...

Journal of Alloys and Compounds 2001 Vol. 328; Iss. 1-2

Trace element analysis by means of synchrotron radiation, XRF, and PIXE: selection of sample preparation procedure

W.M. Kwiatek, B. Kubica, C. Paluszkiewicz, M. Gałka
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Volume:
328
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/s0925-8388(01)01318-4
Fichier:
PDF, 464 KB
english, 2001
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