Evidence of Radiation-Induced Dopant Neutralization in...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2007 Vol. 54; Iss. 6

Evidence of Radiation-Induced Dopant Neutralization in Partially-Depleted SOI NMOSFETs

Akarvardar, Kerem, Schrimpf, Ronald D., Fleetwood, Daniel M., Cristoloveanu, Sorin, Gentil, Pierre, Blalock, Benjamin J.
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Volume:
54
Année:
2007
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1109/tns.2007.910874
Fichier:
PDF, 577 KB
english, 2007
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