Reliability properties of low-voltage ferroelectric...

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 2004 Vol. 4; Iss. 3

Reliability properties of low-voltage ferroelectric capacitors and memory arrays

Rodriguez, J.A., Remack, K., Boku, K., Udayakumar, K.R., Aggarwal, S., Summerfelt, S.R., Celii, F.G., Martin, S., Hall, L., Taylor, K., Moise, T., McAdams, H., McPherson, J., Bailey, R., Fox, G., Depn
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Volume:
4
Année:
2004
Langue:
english
Pages:
14
DOI:
10.1109/tdmr.2004.837210
Fichier:
PDF, 1.17 MB
english, 2004
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