A general noise and S-parameter deembedding procedure for...

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 2001 Vol. 49; Iss. 5

A general noise and S-parameter deembedding procedure for on-wafer high-frequency noise measurements of MOSFETs

Chen, C.-H., Deen, M.J.
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Volume:
49
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
2
DOI:
10.1109/22.920164
Fichier:
PDF, 63 KB
english, 2001
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