Johann crystal diffraction spectrometer for measuring small...

Technical Physics Letters 2009 / 01 Vol. 35; Iss. 1

Johann crystal diffraction spectrometer for measuring small chemical shifts of soft X-ray lines

A. A. Petrunin, A. E. Sovestnov, A. V. Tyunis, É. V. Fomin
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Volume:
35
Langue:
english
Pages:
3
DOI:
10.1134/s1063785009010222
Date:
January, 2009
Fichier:
PDF, 184 KB
english, 2009
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