Monitoring the composition of the Cd1 −zZnzTe...

Semiconductors 2010 / 01 Vol. 44; Iss. 1

Monitoring the composition of the Cd1 −zZnzTe heteroepitaxial layers by spectroscopic ellipsometry

M. V. Yakushev, V. A. Shvets, I. A. Azarov, S. V. Rykhlytski, Yu. G. Sidorov, E. V. Spesivtsev, T. S. Shamirzaev
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Volume:
44
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1134/s1063782610010094
Date:
January, 2010
Fichier:
PDF, 207 KB
english, 2010
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