Capacitance study of electron traps in...

Semiconductors 2004 / 04 Vol. 38; Iss. 4

Capacitance study of electron traps in low-temperature-grown GaAs

P. N. Brunkov, A. A. Gutkin, A. K. Moiseenko, Yu. G. Musikhin, V. V. Chaldyshev, N. N. Cherkashin, S. G. Konnikov, V. V. Preobrazhenskii, M. A. Putyato, B. R. Semyagin
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Volume:
38
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1134/1.1734663
Date:
April, 2004
Fichier:
PDF, 102 KB
english, 2004
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