Soft X-ray microscopy at a spatial resolution better than...

Nature 2005 Vol. 435; Iss. 7046

Soft X-ray microscopy at a spatial resolution better than 15 nm

Chao, Weilun, Harteneck, Bruce D., Liddle, J. Alexander, Anderson, Erik H., Attwood, David T.
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Volume:
435
Année:
2005
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1038/nature03719
Fichier:
PDF, 293 KB
english, 2005
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