Rumiantsev, Andrej : rechercher sur Z-Library

Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

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Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024

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1

VNA calibration

Rumiantsev, Andrej, Ridler, Nick

Journal:

IEEE Microwave Magazine

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 3.13 MB

english, 2008

2

Experimental characterization of temperature-dependent electron transport in single-wall multi-tube carbon nanotube transistors

Paulius Sakalas, Martin Claus, Michael Schroter, Andrej Rumiantsev

Journal:

physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters

Année:

2012

Langue:

english

Fichier:

PDF, 443 KB

english, 2012

3

[IEEE 2006 European Microwave Conference - Manchester, UK (2006.09.10-2006.09.15)] 2006 European Microwave Conference - Calibration Standards Verification Procedure Using the Calibration Comparison Technique

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf, Thies, Steffen

Année:

2006

Langue:

english

Fichier:

PDF, 3.17 MB

english, 2006

4

[IEEE 2008 72nd ARFTG Microwave Measurement Symposium - Portland, OR, USA (2008.12.9-2008.12.12)] 2008 72nd ARFTG Microwave Measurement Symposium - Comparison of on-wafer multiline TRL and LRM+ calibrations for RF CMOS applications

Rumiantsev, Andrej, Sweeney, Susan L., Corson, Phillip L.

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 490 KB

english, 2008

5

Sensitivity Analysis of $S$-Parameter Measurements Due to Calibration Standards Uncertainty

Lenk, Friedrich, Doerner, Ralf, Rumiantsev, Andrej

Journal:

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 2.21 MB

english, 2013

6

[IEEE 2011 77th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Baltimore, MD, USA (2011.06.10-2011.06.10)] 77th ARFTG Microwave Measurement Conference - Calibration residual error propagation analysis using conformal mapping

Lenk, Friedrich, Doerner, Ralf, Rumiantsev, Andrej, Rudolph, Matthias

Année:

2011

Langue:

english

Fichier:

PDF, 141 KB

english, 2011

7

[IEEE 2008 72nd ARFTG Microwave Measurement Symposium - Portland, OR, USA (2008.12.9-2008.12.12)] 2008 72nd ARFTG Microwave Measurement Symposium - The influence of calibration substrate boundary conditions on CPW characteristics and calibration accuracy at mm-wave frequencies

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf, Godshalk, Edward M.

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 559 KB

english, 2008

8

[IEEE 2009 73rd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Boston, MA, USA (2009.06.12-2009.06.12)] 2009 73rd ARFTG Microwave Measurement Conference - Applying the calibration comparison technique for verification of transmission line standards on silicon up to 110 GHz

Rumiantsev, Andrej, Corson, Phillip L., Sweeney, Susan L., Arz, Uwe

Année:

2009

Langue:

english

Fichier:

PDF, 9.38 MB

english, 2009

9

[IEEE 2007 69th ARFTG Conference - Honolulu, HI, USA (2007.06.8-2007.06.8)] 2007 69th ARFTG Conference - The modified ripple test for on-wafer S-parameter measurements

Heuermann, Holger, Rumiantsev, Andrej

Année:

2007

Langue:

english

Fichier:

PDF, 7.62 MB

english, 2007

10

[IEEE 2007 69th ARFTG Conference - Honolulu, HI, USA (2007.06.8-2007.06.8)] 2007 69th ARFTG Conference - A robust broadband calibration method for wafer-level characterization of multiport devices

Rumiantsev, Andrej, Heuermann, Holger, Schott, Steffen

Année:

2007

Langue:

english

Fichier:

PDF, 4.75 MB

english, 2007

11

[IEEE 2013 81st ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Seattle, WA, USA (2013.06.7-2013.06.7)] 81st ARFTG Microwave Measurement Conference - Measurement uncertainties due to non-ideal calibration standards for unknown thru calibration

Lenk, Friedrich, Doerner, Ralf, Kurpas, Paul, Rumiantsev, Andrej

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 915 KB

english, 2013

12

[IEEE 2013 82nd ARFTG Microwave Measurement Conference - Columbus, OH, USA (2013.11.18-2013.11.21)] 82nd ARFTG Microwave Measurement Conference - An automated method for VNA accuracy verification using the modified calibration comparison technique

Guba, Vladimir G., Savin, Aleksandr A., Bykova, Olesia N., Rumiantsev, Andrej, Maxson, Benjamin D.

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 641 KB

english, 2013

13

[IEEE 2008 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - MTT 2008 - Atlanta, GA, USA (2008.06.15-2008.06.20)] 2008 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - Verification of wafer-level calibration accuracy at high temperatures

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 203 KB

english, 2008

14

[IEEE 2014 83rd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Tampa, FL, USA (2014.6.6-2014.6.6)] 83rd ARFTG Microwave Measurement Conference - Estimation of complex residual errors of calibrated two-port vector network analyzer

Savin, Aleksandr A., Guba, Vladimir G., Rumiantsev, Andrej, Maxson, Benjamin D.

Année:

2014

Langue:

english

Fichier:

PDF, 746 KB

english, 2014

15

RF Probe Technology: History and Selected Topics

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf

Journal:

IEEE Microwave Magazine

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 5.24 MB

english, 2013

16

[IEEE 2014 83rd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Tampa, FL, USA (2014.6.6-2014.6.6)] 83rd ARFTG Microwave Measurement Conference - Method for estimating probe-dependent residual errors of wafer-level TRL calibration

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf

Année:

2014

Langue:

english

Fichier:

PDF, 805 KB

english, 2014

17

[IEEE 2014 84th ARFTG Microwave Measurement Conference - Boulder, CO, USA (2014.12.4-2014.12.5)] 84th ARFTG Microwave Measurement Conference - Adaptive estimation of complex calibration residual errors of wafer-level S-parameters measurement system

Savin, Aleksandr A., Guba, Vladimir G., Rumiantsev, Andrej, Maxson, Benjamin D., Schubert, Dirk, Arz, Uwe

Année:

2014

Langue:

english

Fichier:

PDF, 302 KB

english, 2014

18

[IEEE 2014 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting - BCTM - Coronado, CA, USA (2014.9.28-2014.10.1)] 2014 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) - On-wafer small-signal and large-signal measurements up to sub-THz frequencies

Krozer, Viktor, Doerner, Ralf, Schmuckle, Franz-Josef, Weimann, Nils, Heinrich, Wolfgang, Rumiantsev, Andrej, Lisker, Marco, Tillack, Bernd

Année:

2014

Langue:

english

Fichier:

PDF, 2.31 MB

english, 2014

19

[IEEE 2014 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting - BCTM - Coronado, CA, USA (2014.9.28-2014.10.1)] 2014 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) - Temperature impact on the in-situ S-parameter calibration in advanced SiGe technologies

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf, Korndoerfer, Falk

Année:

2014

Langue:

english

Fichier:

PDF, 442 KB

english, 2014

20

[IEEE 2008 71st ARFTG Microwave Measurement Conference - Atlanta, GA, USA (2008.6.20-2008.6.20)] 2008 71st ARFTG Microwave Measurement Conference - Verification of wafer-level calibration accuracy at high temperatures

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 203 KB

english, 2008

21

[IEEE 2016 88th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Austin, TX, USA (2016.12.8-2016.12.9)] 2016 88th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - A simple method for transmission lines quality control

Savin, Aleksandr A., Guba, Vladimir G., Bykova, Olesia N., Rumiantsev, Andrej

Année:

2016

Langue:

english

Fichier:

PDF, 796 KB

english, 2016

22

Spring ARFTG 2018 Microwave Measurement Conference

Schreurs, Dominique, Rumiantsev, Andrej, Teyssier, Jean-Pierre

Journal:

IEEE Microwave Magazine

Année:

2018

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.21 MB

english, 2018

23

[IEEE 2018 91st ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Philadelphia, PA (2018.6.15-2018.6.15)] 2018 91st ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Improving Wafer-Level Calibration Consistency with TMRR Calibration Method

Rumiantsev, Andrej, Fu, Tony, Doerner, Ralf

Année:

2018

Langue:

english

Fichier:

PDF, 976 KB

english, 2018

24

[IEEE 2006 68th ARFTG Conference: Microwave Measurement (ARFTG) - Broomfield, CO, USA (2006.11.28-2006.12.1)] 2006 68th ARFTG Conference: Microwave Measurement - Verification of wafer-level calibration accuracy at cryogenic temperatures

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf, Sakalas, Paulius

Année:

2006

Langue:

english

Fichier:

PDF, 238 KB

english, 2006

25

ARFTG Microwave Measurement Symposium in San Antonio [IEEE Radio & Wireless Week 2020]

Rumiantsev, Andrej, Gering, Joe

Journal:

IEEE Microwave Magazine

Année:

2019

Langue:

english

Fichier:

PDF, 596 KB

english, 2019

26

ARFTG Microwave Measurement Symposium in San Antonio [IEEE Radio & Wireless Week 2020]

Rumiantsev, Andrej, Gering, Joe

Journal:

IEEE Microwave Magazine

Année:

2019

Fichier:

PDF, 596 KB

2019

27

[IEEE 2012 42nd European Microwave Conference (EuMC 2012) - Amsterdam (2012.10.29-2012.11.1)] 2012 42nd European Microwave Conference - Impact of in-situ TRL reference impedance determination on parameter extraction

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf, Lenk, Friedrich

Année:

2012

Langue:

english

Fichier:

PDF, 474 KB

english, 2012

28

[IEEE 2020 94th ARFTG Microwave Measurement Symposium (ARFTG) - San Antonio, TX, USA (2020.1.26-2020.1.29)] 2020 94th ARFTG Microwave Measurement Symposium (ARFTG) - Calibration Substrate Design for Accurate mm-Wave Probe-Tip Calibration

Rumiantsev, Andrej, Doerner, Ralf, Phung, Gia Ngoc

Année:

2020

Fichier:

PDF, 219 KB

2020

29

[IEEE 2020 95th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Los Angeles, CA, USA (2020.8.4-2020.8.6)] 2020 95th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) - Calibration, Repeatability and Related Characteristics of On-wafer, Broadband 70 kHzâ220 GHz Single-Sweep Measurements

Rumiantsev, Andrej, Martens, Jon, Reyes, Steve

Année:

2020

Fichier:

PDF, 981 KB

2020

30

ARFTG Microwave Measurement Symposium 2021 [RWW 2021]

Myers, Rusty, Rumiantsev, Andrej

Journal:

IEEE Microwave Magazine

Année:

2020

Fichier:

PDF, 436 KB

2020