Jahinuzzaman, Shah : rechercher sur Z-Library

Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

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Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024

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Les téléchargements SANS LIMITE sont aussi (au cours de 31 jours après la date de don) disponibles pour TOUS les utilisateurs qui soient en mesure de soutenir le projet pendant la période de collecte de fonds jusqu'au 1 octobre 2024.

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1

A read-decoupled gated-ground SRAM architecture for low-power embedded memories

Wasim Hussain, Shah M. Jahinuzzaman

Journal:

Integration, the VLSI Journal

Année:

2012

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1019 KB

english, 2012

2

[IEEE 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2010 - Paris, France (2010.05.30-2010.06.2)] Proceedings of 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - A scalable offset-cancelled current/voltage sense amplifier

Attarzadeh, Hourieh, SharifKhani, Mohammad, Jahinuzzaman, Shah M.

Année:

2010

Langue:

english

Fichier:

PDF, 269 KB

english, 2010

3

Soft Error Rate Improvements in 14-nm Technology Featuring Second-Generation 3D Tri-Gate Transistors

Seifert, Norbert, Jahinuzzaman, Shah, Velamala, Jyothi, Ascazubi, Ricardo, Patel, Nikunj, Gill, Balkaran, Basile, Joseph, Hicks, Jeffrey

Journal:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Année:

2015

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.03 MB

english, 2015

4

Design and Analysis of A 5.3-pJ 64-kb Gated Ground SRAM With Multiword ECC

Jahinuzzaman, S.M., Shah, J.S., Rennie, D.J., Sachdev, M.

Journal:

IEEE Journal of Solid-State Circuits

Année:

2009

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.39 MB

english, 2009

5

[IEEE 2010 53rd IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS) - Seattle, WA, USA (2010.08.1-2010.08.4)] 2010 53rd IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems - TSPC-DICE: A single phase clock high performance SEU hardened flip-flop

Jahinuzzaman, Shah M., Islam, Riadul

Année:

2010

Langue:

english

Fichier:

PDF, 885 KB

english, 2010

6

A Soft Error Tolerant 10T SRAM Bit-Cell With Differential Read Capability

Jahinuzzaman, Shah M., Rennie, David J., Sachdev, Manoj

Journal:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Année:

2009

Langue:

english

Fichier:

PDF, 745 KB

english, 2009

7

[IEEE 2008 9th International Symposium of Quality of Electronic Design (ISQED) - San Jose, CA, USA (2008.03.17-2008.03.19)] 9th International Symposium on Quality Electronic Design (isqed 2008) - Investigation of Process Impact on Soft Error Susceptibility of Nanometric SRAMs Using a Compact Critical Charge Model

Jahinuzzaman, Shah M., Sharifkhani, Mohammad, Sachdev, Manoj

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 460 KB

english, 2008

8

Threshold voltage instability of amorphous silicon thin-film transistors under constant current stress

Jahinuzzaman, Shah M., Sultana, Afrin, Sakariya, Kapil, Servati, Peyman, Nathan, Arokia

Journal:

Applied Physics Letters

Année:

2005

Langue:

english

Fichier:

PDF, 260 KB

english, 2005

9

[IEEE ESSCIRC 2008 - 34th European Solid-State Circuits Conference - Edinburgh, UK (2008.09.15-2008.09.19)] ESSCIRC 2008 - 34th European Solid-State Circuits Conference - A multiword based high speed ECC scheme for low-voltage embedded SRAMS

Jahinuzzaman, Shah, Shakir, Tahseen, Lubana, Sumanjit, Shah, Jaspal Singh, Sachdev, Manoj

Année:

2008

Langue:

english

Fichier:

PDF, 942 KB

english, 2008

10

[IEEE 2015 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2015.4.19-2015.4.23)] 2015 IEEE International Reliability Physics Symposium - Susceptibility of planar and 3D tri-gate technologies to muon-induced single event upsets

Seifert, Norbert, Jahinuzzaman, Shah, Velamala, Jyothi, Patel, Nikunj

Année:

2015

Langue:

english

Fichier:

PDF, 252 KB

english, 2015

11

[ACM Press the 21st edition of the great lakes symposium - Lausanne, Switzerland (2011.05.02-2011.05.04)] Proceedings of the 21st edition of the great lakes symposium on Great lakes symposium on VLSI - GLSVLSI '11 - A 7T SRAM bit-cell for low-power embedded memories

Hussain, Wasim, Jahinuzzaman, Shah M.

Année:

2011

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.27 MB

english, 2011

12

SPIE Proceedings [SPIE Photonics North - Ottawa, Ontario, Canada (Monday 27 September 2004)] Photonics North 2004: Photonic Applications in Astronomy, Biomedicine, Imaging, Materials Processing, and Education - Bias-induced long-term transient in a-Si:H thin film transistors

Jahinuzzaman, Shah M., Armitage, John C., Lessard, Roger A., Servati, Peyman, Nathan, Arokia, Lampropoulos, George A.

Année:

2004

Langue:

english

Fichier:

PDF, 226 KB

english, 2004

13

[IEEE 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2017.4.2-2017.4.6)] 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - On the efficacy of using proton beams for estimating neutron-induced soft error rates

Jahinuzzaman, Shah, Seifert, Norbert, Sekwao, Samwel, Neale, Adam

Année:

2017

Langue:

english

Fichier:

PDF, 466 KB

english, 2017

14

[IEEE 2009 2nd Microsystems and Nanoelectronics Research Conference (MNRC 2009) - Ottawa, ON, Canada (2009.10.13-2009.10.14)] 2009 2nd Microsystems and Nanoelectronics Research Conference - Soft error robust impulse and TSPC flip-flops in 90nm CMOS

Jahinuzzaman, Shah M., Rennie, David J., Sachdev, Manoj

Année:

2009

Fichier:

PDF, 2.85 MB

2009